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呼和浩特能量色散X荧光光谱RoHS的分析仪服务周到「英飞思科学」

来源:英飞思科学 更新时间:2024-07-05 08:22:27

以下是呼和浩特能量色散X荧光光谱RoHS的分析仪服务周到「英飞思科学」的详细介绍内容:

呼和浩特能量色散X荧光光谱RoHS的分析仪服务周到「英飞思科学」 [英飞思科学)66089b4]"内容:使用这些标样可以根据的化学含量对测量出的XRF强度进行校准。通过这样的校准,能够以准确度和度确定未知聚合物样品的成分。美国加联提供的标样的元素分布同质性极高,而且,由于标样中的各种元素含量经过精挑细选且不具关联性,因此可以准确确定谱线重叠校正系数。校准标样程序包包含四个多元素聚乙烯标样(每个标样的元素含量和重复项各不相同)和一个空白样。

拆分原则

1 拆分的目标是通过适当的拆分手段来获得构成电子电气产品的均质材料。需采取适当的拆分手段来获得均质材料,以确保拆分结果用于后续测试时,不会因为拆分不当而产生错误判断。

2 同一生产厂生产的相同功能、同规格(参数)的多个模块、部件或元器件可以归为一类,从中选取代表性的样品进行拆分,使用相同的材料(包括基材和添加剂)生产的不同部件可视为一个检测单元。

3 颜色不同的材料应拆分为不同的检测单元。

4 对于相关法律法规中规定的豁免清单中的项目或材料,在拆分时应予以识别。

5 当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时,不必拆分,作为非均质检测单元,直接提交检测。

6 当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3时,不必拆分,可以整体制样(如:0805类贴片类元件 2.0×1.2×0.5mm 的元件不必拆分)作为非均质检测单元,直接提交检测。

7 表面处理层应尽量与本体分离(如涂层);对于确实无法分离的(如镀层),可对表面处理层进行初筛(如使用 X 射线荧光光谱仪(XRF)等手段),筛选合格则不拆分;筛选不合格,可使用非机械方法分离(如使用能溶解表面处理层而不能溶解本体材料的化溶液

学溶解提取)。

8 在满足检测结果有效性的前提下,对于经拆分后样品无法满足检测需求量时,可采取

适类,一同制样,直接提交检测

相邻元素的Kα谱线完全分开, 结构上没有分光系统, Si-PIN半导体传感器安装位置邻近样品, 检测灵敏度高, 所以XRF光谱ROHS分析仪Compassionately00成为了RoHS重金属检测的仪器。

由于Ro HS检测涉及成千上万种产品, 基体材料种类繁杂, 有单一材质, 也有金属合金、复合镀层、陶瓷玻璃以及PE、PVC、ABS等塑料类, 目前国内外在检测方法方面没有形成一致性的结论, 因此可以采用一种或几种分析仪器对其中的有害物质进行测试。其中能量色散X射线荧光光谱仪可直接使用固体标准物质进行校准。

以上信息由专业从事能量色散X荧光光谱RoHS的分析仪的英飞思科学于2024/7/5 8:22:27发布

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苏州英飞思科学仪器有限公司
主营:光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪

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